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- 石家莊市金砝碼儀器設備有限公司
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名稱(chēng)：X射線(xiàn)衍射儀
品牌：
規格：
價(jià)格：
時(shí)間：2018/12/29 0:00:00
X射線(xiàn)衍射儀（X-ray diffractometer）功能應用：
■能夠精確地對金屬和非金屬多晶粉末樣品進(jìn)行物相檢索分析、物相定量分析、晶胞參數計算和固溶體分析、微區測試。能夠進(jìn)行原位電池的XRD數據采集。 設備包括長(cháng)壽命X光管、X射線(xiàn)發(fā)生器、高精度測角儀、高精度樣品臺、X射線(xiàn)二維陣列探測器、計算機控制系統、數據測量和分析軟件。
主要技術(shù)要求
■ 3.1 X射線(xiàn)光源與光管。
■ 3.1.1 X射線(xiàn)發(fā)生器：
■ 3.1.1.1最大輸出功率≥600W；
1.1.2最大電壓≥40kV：
■ 1.1.3最大電流≥15mA。
■ 3.1.2長(cháng)壽命X射線(xiàn)光管：
■ 3.1.2.1 Cu光管，標準尺寸設計；
■ 電源電壓 ：AC220V±15％，50Hz
■3.1.2.3 X射線(xiàn)防護：X射線(xiàn)防護：安全連鎖機構、劑量?jì)?yōu)于國標，輻射量小于1?Sv/h。提供獨立的安全電路.
主要技術(shù)要求
■3.2 測角儀 3.2.1測角儀為高精度渦輪蝸桿系統。
■3.2.2掃描方式：Theta /2 Theta測角儀，立式測角儀。 ：
■3.2.4測角儀半徑：≥160 mm.
3.2.5 最小步長(cháng)：0.001?，角度重現性：0.002?。
■ 3.2.6 驅動(dòng)方式：步進(jìn)馬達.
■ 3.3探測器 3.3.1二維陣列探測器：相對與常規點(diǎn)探測器強度提高150倍，靈敏度提高一個(gè)數量級。
■ 3.3.2探測器面積:≥14×14mm，子通道256×256個(gè)
■ 3.3.3最大計數：≥1×108 cps 3.3.4動(dòng)態(tài)范圍：≥1×109 cps
■3.3.5背景：<0.1 cps 3.3.6提供的半導體陣列探測適合小角和廣角測試，最低0.5度起測。 3.3.7 驗收精度：剛玉標樣現場(chǎng)檢測，全譜范圍內所有峰的角度偏差不超過(guò)±0.02度（20度到140度） 3.3.8可采用零維模式（點(diǎn)探測器），一維模式（陣列探測器）。 3.4 樣品臺 3.4.1標準粉末樣品架 3.5 儀器控制和數據采集系統: 3.5.1 計算機：不低于：Windows 10 64位旗艦版操作系統,酷睿雙核I5 3.2GHz以上, 4G以上內存,256G及以上硬盤(pán). 3.6 儀器控制和數據采集軟件： 儀器控制和數據采集軟件： 物相分析軟件：物相檢索軟件，可編程定量分析。無(wú)標樣定量分析，無(wú)標晶粒尺寸分析。 3.7 售后技術(shù)服務(wù) 3.7.1免費進(jìn)行設備安裝、調試和現場(chǎng)操作培訓，免費國內技術(shù)培訓。 3.7.2 廠(chǎng)家在國內有維修中心，有專(zhuān)職的維修工程師，有備品備件庫。在接到用戶(hù)維修請求后，4小時(shí)內做出維修響應，2個(gè)工作日內到達用戶(hù)現場(chǎng)。 3.8 整機質(zhì)保一年。
■能夠精確地對金屬和非金屬多晶粉末樣品進(jìn)行物相檢索分析、物相定量分析、晶胞參數計算和固溶體分析、微區測試。能夠進(jìn)行原位電池的XRD數據采集。 設備包括長(cháng)壽命X光管、X射線(xiàn)發(fā)生器、高精度測角儀、高精度樣品臺、X射線(xiàn)二維陣列探測器、計算機控制系統、數據測量和分析軟件。
主要技術(shù)要求
■ 3.1 X射線(xiàn)光源與光管。
■ 3.1.1 X射線(xiàn)發(fā)生器：
■ 3.1.1.1最大輸出功率≥600W；
1.1.2最大電壓≥40kV：
■ 1.1.3最大電流≥15mA。
■ 3.1.2長(cháng)壽命X射線(xiàn)光管：
■ 3.1.2.1 Cu光管，標準尺寸設計；
■ 電源電壓 ：AC220V±15％，50Hz
■3.1.2.3 X射線(xiàn)防護：X射線(xiàn)防護：安全連鎖機構、劑量?jì)?yōu)于國標，輻射量小于1?Sv/h。提供獨立的安全電路.
主要技術(shù)要求
■3.2 測角儀 3.2.1測角儀為高精度渦輪蝸桿系統。
■3.2.2掃描方式：Theta /2 Theta測角儀，立式測角儀。 ：
■3.2.4測角儀半徑：≥160 mm.
3.2.5 最小步長(cháng)：0.001?，角度重現性：0.002?。
■ 3.2.6 驅動(dòng)方式：步進(jìn)馬達.
■ 3.3探測器 3.3.1二維陣列探測器：相對與常規點(diǎn)探測器強度提高150倍，靈敏度提高一個(gè)數量級。
■ 3.3.2探測器面積:≥14×14mm，子通道256×256個(gè)
■ 3.3.3最大計數：≥1×108 cps 3.3.4動(dòng)態(tài)范圍：≥1×109 cps
■3.3.5背景：<0.1 cps 3.3.6提供的半導體陣列探測適合小角和廣角測試，最低0.5度起測。 3.3.7 驗收精度：剛玉標樣現場(chǎng)檢測，全譜范圍內所有峰的角度偏差不超過(guò)±0.02度（20度到140度） 3.3.8可采用零維模式（點(diǎn)探測器），一維模式（陣列探測器）。 3.4 樣品臺 3.4.1標準粉末樣品架 3.5 儀器控制和數據采集系統: 3.5.1 計算機：不低于：Windows 10 64位旗艦版操作系統,酷睿雙核I5 3.2GHz以上, 4G以上內存,256G及以上硬盤(pán). 3.6 儀器控制和數據采集軟件： 儀器控制和數據采集軟件： 物相分析軟件：物相檢索軟件，可編程定量分析。無(wú)標樣定量分析，無(wú)標晶粒尺寸分析。 3.7 售后技術(shù)服務(wù) 3.7.1免費進(jìn)行設備安裝、調試和現場(chǎng)操作培訓，免費國內技術(shù)培訓。 3.7.2 廠(chǎng)家在國內有維修中心，有專(zhuān)職的維修工程師，有備品備件庫。在接到用戶(hù)維修請求后，4小時(shí)內做出維修響應，2個(gè)工作日內到達用戶(hù)現場(chǎng)。 3.8 整機質(zhì)保一年。
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時(shí)間：2018/12/29 0:00:00
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